
美国GEX声波探头B2F简介
主要应用:
通常:对所有类型零件体内或沿表面分布的缺陷的探测和评估。可以用于有保护膜的探头不适合的有锋利边缘的物体的测试。
指尖探头B..F和MB..F:可以与探头K..G和K..N相比较,但是由于扁平设计,它们非常适合于那些不容易接近的位置的测试。经常被称作"搜索探头"。
主要特性:
1.单晶体探头,用于X声脉冲的发射和接收
2.光滑表面上具有高的增益储备和非常好的分辨率
3.陶瓷接触表面的探头有高的抗磨损性
4.特殊的平指尖式探头
5.带可互换延迟线的探头具有极好的近场分辨率
6.纵波的垂直扫描
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