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产品特点■无限远色差校正光学系统(CSIS),像质更好,分辨率更高,观察。舒适X越的图像质量和稳固可靠的机械结构操作简便,附件齐全,广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等X域。■高眼点、X宽视野平场目镜,PL10x/22mm,提供更加宽阔平坦的观察空间并可加装用于测量的各类测微尺。铰链式双目/三目/数码一体化观察筒,视度可调节,30°倾斜。■无限远平场消色差X长工作距X金相物镜,无盖玻片设计。■粗微调同轴调焦机构,粗调行程28mm,微调精度0.002mm,带有平台位置上下调节机构,样品高度可达50mm(反射)、30mm(透反射),带有粗调松紧调节装置和随机限位装置。■照明系统:反射照明器带斜照明装置,可以再观察细微组织结构时产生浮雕立体的特殊观察效果,自适应90V-240V宽电压,单颗3WLED高亮度冷光源。■可进行摄影摄像,对观察图像进行采集和保存,配置电脑和X软件实现图像分析。技术规格
光学系统无限远色差校正光学系统观察筒铰链式双目头,30°倾斜,可360º旋转,瞳距调节范围:54-75mm,单边视度调节±5铰链式三目头,分光比:双目100%,双目:三目=50%:50%目镜高眼点大视野平场目镜PL10X22mm高眼点大视野平场目镜PL15X/16mm(选购)物镜无限远长工作距平场消色差金相物镜:
LMPL5X/0.15/WD10.8LMPL10X/0.3/WD10LMPL20X/0.45/WD4高X半复消长距金相物镜:
LMPLFL50X/0.55/WD7.8(选购)LMPLFL100X/0.80/WD2.1(选购)转换器5孔内倾式转换器调焦机构反射式机架,低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程28mm,带平台位置上下调节机构,X大样品高度50mm,微调精度0.002mm.带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置透反两用机架,低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程28mm,带平台位置上下调节机构,X大样品高度30mm,微调精度0.002mm.带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置.带12V50W透射光照明系统.上下光可X立控制.载物台175×145mm双层复合机械平台,可拆卸;平台经过特殊工艺处理,防腐耐磨.,移动范围76mmX50mm,配反射用金属载物台板175×145mm双层复合机械平台,可拆卸;平台经过特殊工艺处理,防腐耐磨.,移动范围76mmX50mm,配透、反两用玻璃载物台板反射照明系统反射照明器,柯拉照明系统,带视场光阑与孔径光阑,中心可调;带斜照明装置,自适应90V-240V宽电压输入,单颗大功率3WLED,预定中心,亮度连续可调透射照明系统90-240V宽电压,12V50W卤素灯箱,灯丝中心可调,摇出式消色差聚光镜(N.A0.7)偏光装置起偏镜固定式检偏镜/可360度旋转式检偏镜滤色片反射用干涉滤光片:蓝色≤480/绿色520-570/红色630-750/色平衡片(白光)透射用:蓝摄像装置1.0XC型摄像接筒