
产品介绍: | XX-2型方块电阻测试仪是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻. | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
产品特点: | 1 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定 2 以大屏幕LCD显示读数,直观清晰 3 采用单个电池供电,带电池欠压指示 4 体积≤175mmX92mm X42mm,重量≤300g 5 可配台式探头和特制之手握式探头,对应可采用台式和手握式操作,使用简易 6 带探头与被测物质接触良好指示(LED) 7 单电源开关,推拉式探头-主机接插件,操作极其简便。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
技术参数: |
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